1. Ang laser detection head ug ang sample scanning stage gihiusa, ang istruktura lig-on kaayo, ug ang anti-interference lig-on
2.Precision probe positioning device, laser spot alignment adjustment sayon ra kaayo
3.Single-axis drive sample awtomatik nga moduol sa probe vertically, aron ang dagum tip mao ang perpendicular sa sample scan
4. Ang intelihenteng dagum nga paagi sa pagpakaon sa motor-kontrolado nga presyur nga piezoelectric ceramic nga awtomatik nga detection nanalipod sa probe ug sa sample
5.Awtomatikong optical positioning, dili kinahanglan nga mag-focus, real-time nga obserbasyon ug positioning sa probe sample scanning area
6.Spring suspension shockproof nga pamaagi, yano ug praktikal, maayo nga shockproof nga epekto
7.Metal shielded soundproof box, built-in nga high-precision temperature ug humidity sensor, real-time nga monitoring sa working environment
8.Integrated nga scanner nonlinear correction user editor, nanometer characterization ug pagsukod sa katukma nga mas maayo kaysa 98%
| Operating mode | paghikap mode, tap mode |
| Opsyonal nga paagi | Friction/Lateral Force, Amplitude/Phase, Magnetic/Electrostatic Force |
| kurba sa force spectrum | FZ force curve, RMS-Z curve |
| XY scan range | 20 * 20um, opsyonal nga 50 * 50um, 100 * 100um |
| Z scan range | 2.5um, opsyonal nga 5um, 10um |
| Resolusyon sa pag-scan | Horizontal nga 0.2nm, Vertical 0.05nm |
| Sample nga gidak-on | Φ≤90mm, H≤20mm |
| Sampol nga yugto sa pagbiyahe | 15*15mm |
| Optical nga obserbasyon | 4X optical object lens/2.5um nga resolusyon |
| Katulin sa pag-scan | 0.6Hz-30Hz |
| Anggulo sa pag-scan | 0-360° |
| Operating palibot | Windows XP/7/8/10 operating system |
| Interface sa Komunikasyon | USB2.0/3.0 |
| Makakurat nga disenyo | Gisuspinde sa Spring/Metal Shielded Box |
